四探針測量儀招標公告

我校擬對一套四探針測量儀公開招標采購，詳細技術要求如下：
使用目的：為了測量各種薄膜和半導體材料的方塊電阻率、方塊電阻、電導率和電阻ZAO薄膜是一種很好的透明導電薄膜，它的光學特性和電學特性，使它在很多方面都有了廣泛的應用。其導電性能要通過四探針測量儀測量其面電阻確定，透光性可通過分光光度計來測量。由于實驗室和課題組的需要，需要購買一套測量薄膜電阻率和薄膜方塊電阻的設備，即四探針測量儀，下面是一些技術指標：
1） 測量范圍：電阻率：10-4～105 Ω.cm；
方塊電阻：10-3～106 Ω/□；
電導率：10-5～104 s/cm；
電阻：10-4～105 Ω；
2）電流量程可在1μA到100mA之間可調；
3）四探針探頭基本指標：間距：1±0.01mm；
針間絕緣電阻：≥1000MΩ；
機械游移率：≤0.3%；
探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；
探針壓力：5～16 牛頓(總力)；
4）測量精度：≤±0.5%瀆值±2個字；
5）探針之間的距離：1±0.01mm；
6）數字電壓表量程：0—199.9mV 靈敏度：100μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差為：0.4-0.5%讀數+0.1%滿度
7）探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；
8）計算機，打印機；
9）測量結果不受氣候條件的影響。
歡迎有投標意向的廠家或商家，攜帶有關資質證明復印件和招標費用到我校國資處設備科報名。
報名截止日期：20010年11月11日下午4時
報名地點：西安工業大學未央校區行政樓501室
聯系電話***
聯系人***