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低溫半導體探針臺系統招標公告 招標文件下載

信息發布日期：2011.05.06 標簽：天津市招標

招標編號：	TD2011-J-32
加入日期：	2011.05.06
截止日期：	2011.05.24
招標業主：	天津大學
招標代理：	天津大學資產處
地區：	天津市
內容：	設備名稱：低溫半導體探針臺系統數量：1 用途：用于測試微納米半導體器件，包括TFT、CMOS、LED、探測器、電池等器件的電學特性、光電特性、DC參量和低頻特性；測試樣品在低溫以及變溫下的電學性質，據此分析器件內部載流子傳輸機制。等

招標公告正文

天津大學低溫半導體探針臺系統項目（TD2011-J-32）招標公告
受天津大學的委托，天津大學資產處將以公開招標方式,對天津大學低溫半導體探針臺系統項目實施政府采購。現歡迎合格的投標人參加投標。
一、項目名稱：低溫半導體探針臺系統（招標編號：TD2011-J-32）
二、招標內容：低溫半導體探針臺系統

設備名稱：低溫半導體探針臺系統	數量：1
用途：用于測試微納米半導體器件，包括TFT、CMOS、LED、探測器、電池等器件的電學特性、光電特性、DC參量和低頻特性；測試樣品在低溫以及變溫下的電學性質，據此分析器件內部載流子傳輸機制。
對設備的總體要求：用于微納米器件及相關技術領域的電學特性測試平臺，能夠實現低溫、真空的測試環境；可對微納器件及相關樣品的電學特性、光電特性、DC參量進行測量，溫度控制精確、探針漏電流與寄生電容低、測試信噪比高、整體穩定性高；溫度范圍: 4.5K-400K，四通道溫度測量，雙通道PID控溫; 探針臂：針尖：半徑25μm，漏電流：<100fA頻率：DC-50MHz，寄生電容： <50fF，電纜絕緣電阻>100GΩ，探針作熱沉樣品卡盤：三軸，2英寸，絕緣電阻>100GΩ; 光纖探針臂：紅外多模光纖，波長：350-2400nm，芯徑50um, 外徑125um
主要參數及技術指標：一、技術參數及規格要求 1、制冷方式：液氦或液氦制冷 2、溫度范圍，4.5K-400K 3、直流探針臂：4個 4、漏電流：每個直流探針臂的漏電流小于100fA 5、針臂之間的寄生電容：<50fF 6、直流探針臂頻率：DC-50MHz，直流探針匹配50Ω電阻 7、電纜絕緣電阻>100GΩ 8、樣品卡盤：三軸，2英寸，絕緣電阻>100GΩ 9、其中1個探針臂安裝1個溫度計，用來測量探針臂的溫度 10、直流探針做熱沉，探針臂和冷頭以及防輻射屏有良好熱接觸，直流探針尖對測量信號可以提供良好屏蔽和Guard 11、防輻射屏可以控溫 12、杜瓦壓力自動控制二、系統基本配置組成 1、開環探針臺 1.1 開環探針臺：液氦溫區到400K 1.2 樣品級溫度傳感器，標定的DT-670-SD-1.4H溫度計，標定范圍從1.4K到500K 1.3 樣品級加熱器50W 2、防輻射屏和紅外吸收窗口 2.1 溫度傳感器DT-670C-CU 硅二級管溫度計 2.2 防輻射屏加熱器100W 3、控溫設備 3.1 Lake Shore 336溫控儀，四路輸入，兩路輸出（同時監視樣品臺、防輻射屏以及探針臂溫度） 4、真空腔體 4.1 探針臂開口6個等間距的開口 4.2 充氣口0.25in TPT,帶閥（只允許惰性氣體） 5、探針的導熱連接部件和熱輻射屏是直接和樣品座連接在一起的，一個探針臂的連接部件上帶一個鉑溫度計，直接和6針的電接頭用電纜相連 6、光學包 6.1 光學Zoom 70顯微鏡 6.2 彩色CCD相機 6.3 掃描鏡頭臂鏡頭的調整臂可以進行旋轉和上下升降，這樣確保在整個樣品架范圍內對樣品進行觀察，在更換樣品的時候，也可以把調整臂旋轉到一側，方便更換。 6.4 顯示器17in顯示器 6.5 樣品照明設備，可調光源和電源 7、4個直流探針臂 8、4根低溫電纜，帶三軸接頭，最大頻率50MHz 9、2英寸三軸樣品架，帶三軸接頭 10、1個光纖備用臂，光纖卡具及光纖，350-2400nm芯徑50um, 外徑125um 11、杜瓦自動控壓裝置 12、液氮杜瓦 13、100升液氦杜瓦

標書見附件，免費下載。
三、投標人資質要求：
1．法人營業執照副本或加蓋公章的復印件。
2．法定代表人授權書（須有法人代表簽字和蓋章）。
3．被授權人的身份證復印件。
四、獲取招標文件的方式：招標文件電子文檔可在天津大學設備信息網下載。
五．報名時間（北京時間）：2011年5月6日-5月24日 12：00止，每日8：30至16：30（法定節假日除外）。
五、投標截止時間及地點：2011年6月2日14:30前在天津大學第九教學樓大會議室，逾期收到或不符合規定的投標文件恕不接受。
六、開標時間及地點：2011年6月2日14:30在天津大學第九教學樓大會議室。
七、凡參加投標的投標人均被視為接受上述采購項目的招標要求。投標人如對本招標文件有疑義的，請在開標截止日15日前以書面形式送達天津大學資產處，逾期將視為認同本招標文件的公平、公正性。
八、采購代理機構：天津大學資產處
聯系地址***
郵政編碼：300072
聯系電話***
傳真電話：***
聯系人***
采購單位：天津大學
采購代理機構：天津大學資產處

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設備名稱：低溫半導體探針臺系統	數量：1
用途：用于測試微納米半導體器件，包括TFT、CMOS、LED、探測器、電池等器件的電學特性、光電特性、DC參量和低頻特性；測試樣品在低溫以及變溫下的電學性質，據此分析器件內部載流子傳輸機制。
對設備的總體要求：用于微納米器件及相關技術領域的電學特性測試平臺，能夠實現低溫、真空的測試環境；可對微納器件及相關樣品的電學特性、光電特性、DC參量進行測量，溫度控制精確、探針漏電流與寄生電容低、測試信噪比高、整體穩定性高；溫度范圍: 4.5K-400K，四通道溫度測量，雙通道PID控溫; 探針臂：針尖：半徑25μm，漏電流：<100fA頻率：DC-50MHz，寄生電容： <50fF，電纜絕緣電阻>100GΩ，探針作熱沉樣品卡盤：三軸，2英寸，絕緣電阻>100GΩ; 光纖探針臂：紅外多模光纖，波長：350-2400nm，芯徑50um, 外徑125um
主要參數及技術指標：一、技術參數及規格要求 1、制冷方式：液氦或液氦制冷 2、溫度范圍，4.5K-400K 3、直流探針臂：4個 4、漏電流：每個直流探針臂的漏電流小于100fA 5、針臂之間的寄生電容：<50fF 6、直流探針臂頻率：DC-50MHz，直流探針匹配50Ω電阻 7、電纜絕緣電阻>100GΩ 8、樣品卡盤：三軸，2英寸，絕緣電阻>100GΩ 9、其中1個探針臂安裝1個溫度計，用來測量探針臂的溫度 10、直流探針做熱沉，探針臂和冷頭以及防輻射屏有良好熱接觸，直流探針尖對測量信號可以提供良好屏蔽和Guard 11、防輻射屏可以控溫 12、杜瓦壓力自動控制二、系統基本配置組成 1、開環探針臺 1.1 開環探針臺：液氦溫區到400K 1.2 樣品級溫度傳感器，標定的DT-670-SD-1.4H溫度計，標定范圍從1.4K到500K 1.3 樣品級加熱器50W 2、防輻射屏和紅外吸收窗口 2.1 溫度傳感器DT-670C-CU 硅二級管溫度計 2.2 防輻射屏加熱器100W 3、控溫設備 3.1 Lake Shore 336溫控儀，四路輸入，兩路輸出（同時監視樣品臺、防輻射屏以及探針臂溫度） 4、真空腔體 4.1 探針臂開口6個等間距的開口 4.2 充氣口0.25in TPT,帶閥（只允許惰性氣體） 5、探針的導熱連接部件和熱輻射屏是直接和樣品座連接在一起的，一個探針臂的連接部件上帶一個鉑溫度計，直接和6針的電接頭用電纜相連 6、光學包 6.1 光學Zoom 70顯微鏡 6.2 彩色CCD相機 6.3 掃描鏡頭臂鏡頭的調整臂可以進行旋轉和上下升降，這樣確保在整個樣品架范圍內對樣品進行觀察，在更換樣品的時候，也可以把調整臂旋轉到一側，方便更換。 6.4 顯示器17in顯示器 6.5 樣品照明設備，可調光源和電源 7、4個直流探針臂 8、4根低溫電纜，帶三軸接頭，最大頻率50MHz 9、2英寸三軸樣品架，帶三軸接頭 10、1個光纖備用臂，光纖卡具及光纖，350-2400nm芯徑50um, 外徑125um 11、杜瓦自動控壓裝置 12、液氮杜瓦 13、100升液氦杜瓦